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	<title>技术文章</title>
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	<description>集成电路测试仪,电路板故障检测仪,电能质量分析仪,谐波分析仪,谐波测试仪技术文章,http://www.art18.net</description>
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		<title>ABI SYSTEM 8 的功能应用说明</title>
		<link>http://www.17dir.cn/archives/332</link>
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		<pubDate>Wed, 20 Jul 2011 02:33:16 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[ic测试技术]]></category>

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		<description><![CDATA[说明ABI SYSTEM 8 如何协助你测试及维修电路板]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p> </p>
<div><strong>说明</strong><strong>ABI SYSTEM 8 </strong><strong>如何协助你测试及维修电路板</strong></div>
<div>什么是 SYSTEM 8 ?</div>
<div>
<div> </div>
<div>
<div>SYSTEM 8 是一系列模块的统称, 此系列模块包含了: 检测, 量测, 故障查找. 并可进行数字 / 模拟器件及电路板的整板测试..</div>
<div>由于模块化的特点, SYSTEM 8 系列可依客户的需求及应用来定制客户所需要的量测设备. 请参考各项SYSTEM 8 模块中的细部说明.</div>
<div> </div>
<div>
<div><strong>想一下！</strong><strong>如何量測以下的電路板     </strong></div>
<div>如何利用SYSTEM 8 来测试及维修电路板?</div>
</div>
<div><strong> </strong></div>
</div>
</div>
<div>
<div id="attachment_335" class="wp-caption alignnone" style="width: 310px"><a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/07/图片11.png"><img class="size-medium wp-image-335" title="system-1" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/07/图片11-300x243.png" alt="如何利用SYSTEM 8 来测试及维修此电路板" width="300" height="243" /></a><p class="wp-caption-text">如何利用SYSTEM 8 来测试及维修此电路板</p></div>
</div>
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		<item>
		<title>法国CA公司推出CA8335中国市场CS套装</title>
		<link>http://www.17dir.cn/archives/325</link>
		<comments>http://www.17dir.cn/archives/325#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 14 Jul 2011 04:08:23 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[ic测试技术]]></category>
		<category><![CDATA[测试案例]]></category>
		<category><![CDATA[生活杂谈]]></category>

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		<description><![CDATA[为了适应中国市场客户的需求，近日法国CA公司中国分公司-上海浦江埃纳迪斯仪表有限公司正式向中国市场推出适合中国测试人员使用的CA8335测试套装-cs套装。

该套装重点强调的是法国CA公司一贯执行的服务理念，将法国CA的服务理念与中国市场的特点有机的结合，是法国CA服务理念本土化的延伸与深入。
]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>为了适应中国市场客户的需求，近日法国CA公司中国分公司-上海浦江埃纳迪斯仪表有限公司正式向中国市场推出适合中国测试人员使用的CA8335测试套装-cs套装。</p>
<p>该套装重点强调的是法国CA公司一贯执行的服务理念，将法国CA的服务理念与中国市场的特点有机的结合，是法国CA服务理念本土化的延伸与深入。</p>
<p>法国CA8335电能质量分析仪中国区行货套装配置如下：</p>
<p>1. 抗震硬便携箱*1只</p>
<p>2.中文操作说明书（纸质）*1本</p>
<p>3.中文软件操作说明书（纸质）*1本</p>
<p>4.中文PC分析软件光盘</p>
<p>5.中文国标报告软件光盘 (凭中国地区所售机序列号）</p>
<p>6.中文教学演示光盘</p>
<p>7.中国区（主机）三年质保证书 (凭中国地区所售机序列号）</p>
<p>8.免费培训服务登记卡 (凭中国地区所售机序列号）</p>
<p>9.主机硬件程序版本终身免费升级(凭中国地区所售机序列号）</p>
<p>10.中文PC软件终身免费升级(凭中国地区所售机序列号）</p>
<p>上述CA8335中国市场CS套装，从即日起配置到中国市场所售机型：ca8335中，中国市场所售机型型号为ca8335CS</p>
<p>2011年7月1日之前购买的客户可凭机器序列号申请相关升级服务，并做好登记工作，客户凭中国区序列号登记后，以后的每次相关的升级服务，客户会得到我们及时通知和服务。</p>
<p>升级服务与咨询电话：上海：021-55156939   北京：010-82573333</p>
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		</item>
		<item>
		<title>北京半导体企业及科研院所名录</title>
		<link>http://www.17dir.cn/archives/319</link>
		<comments>http://www.17dir.cn/archives/319#comments</comments>
		<pubDate>Fri, 01 Jul 2011 10:06:21 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[ic测试技术]]></category>
		<category><![CDATA[失效分析，ic测试]]></category>
		<category><![CDATA[封装]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.ic114.net.cn/?p=319</guid>
		<description><![CDATA[首钢日电电子有限公司

　　北京宇翔电子有限公司

　　北京半导体器件九厂

　　北京燕东微电子有限公司

　　北京东光微电子有限责任公司

　　北京友泰半导体有限公司

　　中芯国际集成电路制造 ( 北京 ) 有限公司

　　北京半导体器件五厂

　　北京七星华创电子股份有限公司

　　--设计企业--

　　北京大学微电子学研究所

　　中国华大集成电路设计中心

　　大唐微电子技术有限公司

　　北京华虹集成电路设计有限责任公司

　　北京润光泰力科技发展有限公司

　　北京海尔集成电路设计有限公司

　　威盛电子(中国)有限公司

　　北京中星微电子有限公司
]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<h2>北京半导体企业及科研院所名录</h2>
<p> </p>
<div id="_forum_">　　（排名不分先后）</p>
<p>　　<strong>&#8211;制造企业&#8211;<br />
</strong><br />
　　首钢日电电子有限公司</p>
<p>　　北京宇翔电子有限公司</p>
<p>　　北京半导体器件九厂</p>
<p>　　北京燕东微电子有限公司</p>
<p>　　北京东光微电子有限责任公司</p>
<p>　　北京友泰半导体有限公司</p>
<p>　　中芯国际集成电路制造 ( 北京 ) 有限公司</p>
<p>　　北京半导体器件五厂</p>
<p>　　北京七星华创电子股份有限公司</p>
<p>　　<strong>&#8211;设计企业&#8211;<br />
</strong><br />
　　北京大学微电子学研究所</p>
<p>　　中国华大集成电路设计中心</p>
<p>　　大唐微电子技术有限公司</p>
<p>　　北京华虹集成电路设计有限责任公司</p>
<p>　　北京润光泰力科技发展有限公司</p>
<p>　　北京海尔集成电路设计有限公司</p>
<p>　　威盛电子(中国)有限公司</p>
<p>　　北京中星微电子有限公司</p>
<p>　　北京时代民芯科技有限公司</p>
<p>　　清华大学微电子学研究所</p>
<p>　　北京讯创集成电路股份有限公司</p>
<p>　　方舟科技(北京)有限公司</p>
<p>　　北京中庆微数字设备开发有限公司</p>
<p>　　北京兆日科技有限责任公司</p>
<p>　　北京东科微电子有限责任公司</p>
<p>　　北京宏思电子有限责任公司</p>
<p>　　北京北大青鸟环宇科技股份有限公司</p>
<p>　　北京思旺电子技术有限公司</p>
<p>　　北京NEC集成电路设计有限公司</p>
<p>　　北京凯赛德航天系统集成设计有限公司</p>
<p>　　北京中科联创科技有限公司</p>
<p>　　中国科学院微电子中心</p>
<p>　　北京市海阔电子股份有限公司</p>
<p>　　北京百拓立克科技发展有限责任公司</p>
<p>　　北京天宏绎集成电路科技发展有限公司</p>
<p>　　北京硅普京南科技企业孵化器有限公司</p>
<p>　　北京东世半导体技术有限公司</p>
<p>　　北京清华同方微电子有限公司</p>
<p>　　北京中科微电子技术有限公司</p>
<p>　　北京国芯安集成电路设计有限公司</p>
<p>　　北京奥贝克电子信息技术有限公司</p>
<p>　　北京协同伟业信息技术有限公司</p>
<p>　　北京福星晓程电子科技股份有限公司</p>
<p>　　北京北方华虹微系统有限公司</p>
<p>　　北京万通微电子技术有限公司</p>
<p>　　科广新(北京)信息技术有限公司</p>
<p>　　北京迅风光通信技术开发有限责任公司</p>
<p>　　北京利亚德电子科技有限公司</p>
<p>　　北京火马微电子技术有限公司</p>
<p>　　北京清华紫光微电子系统有限公司</p>
<p>　　北京宽广电信信息技术发展有限公司</p>
<p>　　国家专用集成电路设计工程技术研究中心</p>
<p>　　北京旭成华达科技有限公司</p>
<p>　　北京联志创捷科技有限公司</p>
<p>　　中电智能卡有限责任公司</p>
<p>　　北京航天伟盈微电子有限公司</p>
<p>　　北京赛特克电子技术有限公司</p>
<p>　　北京富世鸿电子科技有限公司</p>
<p>　　北京凝思科技有限公司</p>
<p>　　北京时代华诺科技有限公司</p>
<p>　　北京北阳电子技术有限公司</p>
<p>　　奥华微电子(北京)有限公司</p>
<p>　　北京中科飞鸿科技有限公司</p>
<p>　　北京中电华大电子设计有限责任公司</p>
<p>　　安那络器件(中国)有限公司</p>
<p>　　北京弗赛尔电子设计有限公司</p>
<p>　　北京天一集成科技有限公司</p>
<p>　　北京迪吉特科技发展有限公司</p>
<p>　　北京畅讯新通科技有限公司</p>
<p>　　北京麦哲籁博科技有限公司</p>
<p>　　北京地太探测器制造有限公司</p>
<p>　　瑞萨集成电路设计(北京)有限公司</p>
<p>　　北京安立文高新技术有限公司</p>
<p>　　北京芯愿景软件技术有限公司</p>
<p>　　北京微辰信息技术有限公司</p>
<p>　　北京芯光天地集成电路设计有限公司</p>
<p>　　北京巨数数字技术开发有限公司</p>
<p>　　北京青鸟元芯微系统科技有限责任公司</p>
<p>　　北京神州龙芯集成电路设计有限公司</p>
<p>　　北京华兴微电子有限公司</p>
<p>　　北京睿丽彩电子有限公司</p>
<p>　　北京利科益华科技有限公司</p>
<p>　　北京铿腾电子科技有限公司</p>
<p>　　北京清华同方凌讯科技有限公司</p>
<p>　　北京卡斯特信息系统技术有限公司</p>
<p>　　北京思旺电子技术有限公司</p>
<p>　　思略微电子(北京)有限公司</p>
<p>　　北京南山高科技有限公司</p>
<p>　　中国电子工程设计院</p>
<p>　　北京九方中实电子科技有限责任公司</p>
<p>　　北京明宇科技有限公司</p>
<p>　　英贝多嵌入式网络技术有限公司</p>
<p>　　北京芯网拓科技有限公司</p>
<p>　　兴唐通信科技股份有限公司</p>
<p>　　旭普科技有限公司</p>
<p>　　北京芯源东升集成电路技术开发有限公司</p>
<p>　　硅谷数模半导体(北京)有限公司</p>
<p>　　北京华大恒泰科技有限责任公司</p>
<p>　　北京北大众志微系统科技有限公司</p>
<p>　　北京矽正电子技术有限公司</p>
<p>　　北京飞宇微电子有限责任公司</p>
<p>　　北京希格玛晶华微电子股份有限公司</p>
<p>　　北京嘉盛联侨信息工作技术有限公司</p>
<p>　　深思计算机系统集成技术公司</p>
<p>　　北京天越鼎圣科技有限公司</p>
<p>　　北京智源利和微电子技术有限公司</p>
<p>　　中科院自动化研究所微电子设计中心</p>
<p>　　北京大学微电子学研究所ASIC设计教研室</p>
<p>　　北京机械工业自动化所专用集成电路及控制单元中心</p>
<p>　　中国科学院声学研究所</p>
<p>　　信息产业部第15研究所ASIC设计中心</p>
<p>　　航天工业部公司九院激光门陈列室</p>
<p>　　首信集团首信研究院IP技术研究所</p>
<p>　　北京科技大学信息工程学院</p>
<p>　　北京首科微电子工业研发中心有限责任公司</p>
<p>　　中国科学院计算机技术研究所系统结构室</p>
<p>　　北京大学微处理器研究开发中心</p>
<p>　　北大宇环微电子系统工程公司</p>
<p>　　北京理工大学ASIC研究所</p>
<p>　　中电智能卡有限责任公司</p>
<p>　　北京芯慧同用微电子技术有限责任公司</p>
<p>　　芯晟(北京)科技有限公司</p>
<p>　　北京格林威尔科技发展有限公司</p>
<p>　　北京数安科技有限公司</p>
<p>　　北京时代飞龙科技发展有限责任公司</p>
<p>　　北京华大智宝电子系统有限公司</p>
<p>　　北京畅讯信通科技有限公司</p>
<p>　　北京广嘉创业电子技术有限公司</p>
<p>　　<strong>&#8211;测试、封装企业&#8211;<br />
</strong><br />
　　北京自动测试技术研究所</p>
<p>　　北京华峰测控技术有限公司</p>
<p>　　威讯联合半导体（北京）有限公司</p>
<p>　　北京市半导体器件研究所</p>
<p>　　瑞萨四通集成电路有限公司</p>
<p>　　北京半导体器件六厂</p>
<p>　　北京东润泰思特测控技术有限公司</p>
<p>　　北京东英泰思特测控技术有限公司</p>
<p>　　北京泰思特测控技术有限公司</p>
<p>　　北京东兴泰思特检测技术有限公司</p>
<p>　　北京科力泰思特测控技术有限公司</p>
<p>　　北京华大泰思特半导体检测技术有限公司</p>
<p>　　<strong>&#8211;材料企业&#8211;<br />
</strong><br />
　　有研半导体材料股份有限公司</p>
<p>　　北京圣科佳电子有限责任公司</p>
<p>　　国泰半导体材料有限公司</p>
<p>　　北京中科稼英半导体有有限公司</p>
<p>　　北京科化新材料科技有限公司</p>
<p>　　中科院半导体研究所</p>
<p>　　北京科化化学新技术公司</p>
<p>　　中国科学院化学研究所</p>
<p>　　北京达博有色金属焊料有限责任公司</p>
<p>　　<strong>&#8211;设备企业&#8211;<br />
</strong><br />
　　北京建中机器厂(北京七星华创电子股份有限公司)</p>
<p>　　北京华林伟业电子设备有限公司</p>
<div><strong>　　&#8211;其他&#8211;</p>
<p></strong></div>
<p>　　北京首钢高新技术有限公司</p>
<p>　　北京国际工程咨询公司</p>
<p>　　北京林河工业开发区管理委员会</p>
<p>　　首都国际投资管理有限公司</p>
<p>　　北京市石景山高科技园区</p>
<p>　　京东方现代（北京）显示技术有限公司</p>
<p>　　京东方科技集团股份有限公司</p>
<p>　　北京万邦机电新技术公司</p></div>
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		</item>
		<item>
		<title>我对元器件可靠性与失效性分析（转）</title>
		<link>http://www.17dir.cn/archives/317</link>
		<comments>http://www.17dir.cn/archives/317#comments</comments>
		<pubDate>Fri, 01 Jul 2011 10:01:26 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[ic测试技术]]></category>
		<category><![CDATA[IC测试案例]]></category>
		<category><![CDATA[失效分析，ic测试]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.ic114.net.cn/?p=317</guid>
		<description><![CDATA[    可靠性，是质量控制的一个分支。但是把可靠性提升到一个专门技术来看待，是产品不断追求完美的一个必要阶段。我国可靠性研究起步较晚，伴随而来的可靠性分 析技术，可靠性设备相对落后。在质量管理体系的跟进方面，比如ISO9001，中国似乎很快就赶上先进国家了，但是ISO，形式主义严重，不管是大大小小 的公司，几乎都通过了ISO认证，现在我国企业ISO运作的现实是，基本上对质量水平的提升没有突破性的进展。未来企业之间产品实力的竞争，将会是可靠性 水平的竞争。所以，可靠性研究的地位，将会越来越重要。]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p><strong>一、我对可靠性的基本认识</strong></p>
<p>    可靠性，是质量控制的一个分支。但是把可靠性提升到一个专门技术来看待，是产品不断追求完美的一个必要阶段。我国可靠性研究起步较晚，伴随而来的可靠性分 析技术，可靠性设备相对落后。在质量管理体系的跟进方面，比如ISO9001，中国似乎很快就赶上先进国家了，但是ISO，形式主义严重，不管是大大小小 的公司，几乎都通过了ISO认证，现在我国企业ISO运作的现实是，基本上对质量水平的提升没有突破性的进展。未来企业之间产品实力的竞争，将会是可靠性 水平的竞争。所以，可靠性研究的地位，将会越来越重要。</p>
<p><strong>二、关于可靠性研究的架构形式与运作模式</strong></p>
<p>    可靠性工程师，表面上是一种形式的设置，事实上体现了企业对可靠性的重视程度。</p>
<p>    传统的产品质量控制，也有一些可靠性控制方面的工作。比如开发部门的DQE（开发测试工程师）、品质部的QA、QE，都有一部分的可靠性工作。但是，这种 模式，以对产品的功能，性能，安全测试为主，失效分析也停留在比较表面的部分。所以，有时即使看起来在控制质量，也有一些措施，但是不良仍然不断在发生， 原因就在于没有分析到本质问题。</p>
<p><strong>   </strong> <strong>可靠性研究的两大内容就是失效分析和可靠性测试（包括破坏性实验）。两者之间是相互影响和相互制约的。</strong></p>
<p><strong>   </strong> <strong>不过为了使事前简化，可以把这两大内容分割开来看。把失效分析和可靠性测试当成是可靠性研究的两个境界（严格讲来，这种分法不是非常恰当，此处只是为了简化）。企业可以根据自身的实际作出不同的策略。</strong></p>
<p><strong>   </strong> <strong>以失效分析为主要内容的模式，相对来说是比较被动的模式， 是等问题发生后才去分析问题的。当然，失效分析结果出来之后，可以反过来影响测试、开发、 工艺、流程、筛选标准等。这种模式又可以根据自身情况，把失效分析做到不同的境界。这种模式，即使是简单的境界，也能实现低投入高回报。规模较小时，比如 我们公司开始时可以采取这种模式。</strong></p>
<p>    以可靠性测试（包括破坏性实验）为主要内容的模式，是从源头上保证可靠性的一种方法。这种模式是一个系统工程，要求的实验设备非常丰富，投入的人力和时间 也多，还有对信息的收集和统计（“只有在统计受控的条件下生产的元器件才会具有高可靠性”）投资非常大。目前我们公司还不能完全满足这个条件。</p>
<p><strong>  </strong> <strong>下面谈的是我对以失效分析为主要内容的模式时，可靠性研究架构的看法。</strong></p>
<p><strong>  </strong> <strong>这种模式，由于规模小，所以不足以成立一个专门部门。但是可 靠性工程师（或失效分析工程师）是一个必要岗位。当然可靠性工程师分在品质部还是开发部 直接影响到失效分析的效率。就像品质部必须脱离生产系统一样，可靠性工程师必须安排在开发部，才能发挥更大的效力。常规的品质问题，还是由品质工程师处 理。而可靠性工程师，主要分析的是返修率高的元器件失效，或对生产影响比较严重的元器件失效。否则就不会有这么多的精力解决重点问题。当然，可靠性工程师 并不是单打独干就能解决问题。所以，在处理某种重要失效时，可靠性工程师必须牵头组织，成立失效分析专案小组，明确专案小组成员的责任，共同分析问题，查 出原因，定位责任，提出改善措施，跟踪实施效果。这方法与品质PDCA循环类似，但必须把失效原因定位更加专业准确，提出的解决方案也必须更加有效果。失 效分析专案小组可以由固定的人员组成，也可以针对实际情况具体指定人员。专案小组成员，除了可靠性工程师，一般都会有开发、工程技术、品质、生产等人员组 成。</strong></p>
<p><strong>   </strong> <strong>所谓的“某种重要的失效”，提出方可以是市场客服人员，也可以是生产部，或品质部，甚至开发部自身。</strong></p>
<p><strong>三、可靠性工程师的素质要求之我见</strong></p>
<p>    可靠性问题，基本上都可以归结到元器件失效，（少部分是系统兼容及环境干扰引起）。换句话说，产品出去客户那里使用时不良，基本上都可以归结到元器件（还 有软件）失效引起。所以，失效分析的精华就是元器件失效分析。但是元器件失效，除了元器件件本身可靠性差，还有设计、工艺、人为、环境应力等引起，或者是 由综合因素引起。至于元器件本身问题，按照供应链管理的思路，追溯到供应商那里，同样可以归结为其原材料可靠性差，设计、工艺、人为、环境应力等引起。所 以，<strong>可靠性工程师，必定要求对元器件的设计选用、测试、生产工艺熟悉。</strong>从我个人角度来看，我认为，可以多与供应商沟通，对于不了解的元器件甚至可以到现场考察交流。</p>
<p><strong>   </strong> <strong>其次，必须对电子技术本身非常熟悉</strong>，否则，系统的工作原理不了解，就没办法深入地分析失效原因，特别是设计层面的问题。</p>
<p><strong>   </strong> <strong>必须熟悉物理化学等知识</strong>，因为失效机理的最深层次原因基本上都是物理化学作用引起的。我本人为此还决定重新复习高中和大学的数理化知识。</p>
<p><strong>必须懂得开发设计原理</strong>，否则就找不出设计原因引起的失效。而设计原因引起的失效，又占元器件失效很大的一部分。</p>
<p><strong>   </strong> <strong>熟悉生产工艺。</strong></p>
<p><strong>   </strong> <strong>逻辑严密，具有推理能力。</strong>同样的失效现象，有可能有不同的原因引起。在失效分析技术中，提出假说(有点像科学研究)是很常用的一种方法，然后拿良品按假说实验，重现失效现象，印证假说。</p>
<p><strong>   </strong> <strong>考虑问题全面，小心谨慎。</strong>失效分析其实 不仅仅只“挑刺”。处理问题还必须以企业的实际情况相适应，考虑全局利益。比如不可能拿军用标准来要 求工业用和民用的元器件。不可能不考虑成本因素而无限要求质量。所以发现问题时，可靠性研究必须提出筛选方案，保证能把有隐患的不良品提前暴露出来，又不 会由于不恰当的测试应力增加隐患。而对于某些情况是否可以放行，必须提供数据或理论，以免误放不良品，或者过于谨慎而造成浪费。</p>
<p><strong>   </strong> <strong>实事求是，数据必须真实可靠</strong>。否则会给决策带来失误。</p>
<p><strong>   </strong> <strong>其他。</strong></p>
<table border="0" width="100%">
<tbody>
<tr>
<td width="100%">四、关于流程和数据</p>
<p>可靠性研究如果是以可靠性测试（包括破坏性实验）为主要内容的模式，可能会有很多规范与流程。不过对于以失效分析为主要内容的模式，我认为程序会简单一点。主要是要制定出失效分析专案小组的工作流程。至于更多的流程，可以在实际工作中根据实际需要，逐步建立。另外，还可以借鉴别人的经验，甚至可以到有可靠性分析的供应商那里取经。另外表格方面，肯定要有比较专业的失效分析及改善报告。失效分析报告在不少国家甚至已经规范化了，可以结合企业的实际情况恰当修改。一份专业的失效分析报告，几乎可以把该考虑的内容都考虑进去了，别人拿到这种报告，基本上可以对分析的来龙去脉知道得一清二楚。</p>
<p>数据方面，我认为有以下一些数据必须收集：</p>
<p>关键性的可靠性测试项目和规范。即使可靠性实验不能全部做，也要挑取对产品影响最重要的一些项目来测试。这个主要是针对我司成品或半成品而言的测试。在必要时，要求供应商对其元件测试一些可靠性项目。</p>
<p>收集公司产品的使用环境情况，为开发的可靠性设计提供依据。</p>
<p>统计分析返修率高的元器件失效，或对生产影响比较严重的元器件失效。并为改善措施是否有效提供对比数据。如果人力资源充足，甚至可以对所有元件的失效率进行统计。</p>
<p>收集各种类型的元器件的失效率允许范围的数据。比如，某个元件，生产时失效率是万分之二，这个失效率能不能接受呢？如果把挑选过后的良品放出去，会有多大隐患呢？后续怎么跟踪呢？这些数据都必须收集。</p>
<p>五、失效分析的资源配备</p>
<p>硬件方面，一般公司的情况，不足以配备非常完美的失效分析工具和可靠性设备。要根据失效分析的深度和广度来提出相应的配置。我个人的看法是，最基本的失效分析工具应该配备一个显微镜，以便从微观的方面，查清楚失效部位的物理表现。当然，对于显微镜的价位，如果过于昂贵，可以考虑暂时不买。另外，由于冷热循环最容易暴露质量问题，所以有必要时，可以考虑配置冷热循环试验设备。</p>
<p>“软件”方面，需要的支援。包括上层领导对可靠性的重视，还要像全员品质控制一样，使所有人员都有可靠性的意识。可靠性意识方面可以请外训或一些培训机构或失效分析机构来公司培训或开讲座。（开讲座未必一定要钱，如果是一些仪器销售公司，他们为了增加销售机会可能愿意来讲解可靠性方面的知识）。必要时公司和一些外界研究机构建立长期的合作关系。另外，失效分析很重要的一点是分析机器在客户那里的失效。对客户的使用情况和使用环境的信息越丰富，分析起来就越准确。这时，可能需要市场业务人员积极配合，并且有意识地收集相关信息反馈到开发部。必要时可靠性工程师还必须到现场收集信息。</p>
<p>六、可靠性工程师的定位，以及刚设立可靠性工程师时如何上手</p>
<p>技术方面，可靠性工程师主要是对失效得出专业的原因分析，把责任定位得非常准确，并提出有效的改善方案，同时，为筛选标准提供专业的理论或数据，为是否可以放行提供专业的理论或数据。有的工作可能与品质工程师重叠，但品质工程师做的可能会有广度，但深度不足。我认为两者主要还是在专业程度方面的区别，可以认为，可靠性工程师必须解决品质工程师解决不了的失效问题。开发工程师，而生产技术工程师，生产管理人员等，主要是为设计或工艺或人为引起的失效负责，并实施改善。如果设置可靠性工程师，我认为近期的工作重点，可以从解决影响生产的失效做起，这是最浅层面上的工作。如果们公司有不少反复发生的不良，问题没有根治，严重影响生产。可靠性工程师有义务去解决这些老大难问题。而考核可靠性工程师的主要标准我认为就是对这些问题的解决效果。更为长远的目标，可靠性工程师必须关注产品在外面的失效，解决其中比较严重的问题。鱼骨图是失效分析的最基本工具，不管表达方式是不是做成鱼骨图，但一定是按此思路来分析问题的。我认为并非一定要按人机料法环之类的归类，不同的环节的失效，鱼骨的主干是有所不同的。所以挂在鱼骨的主干上的相关人员及其责任也会有所不同。我个人倾向于采用灵活的鱼骨图，并且对鱼骨各支对本失效的影响程度作定性的分析。（对于“程度”这个词，比较难以量化。不过或许可以摸索出定量的方法出来）。</p>
<p>七、可靠性工程师最好应设在开发部的理由</p>
<p>首先，从技术权威的角度来谈，由于开发部是技术权威，而可靠性工程师必须有技术权威作后盾。其次，解决问题的力度方面。如果可靠性工程师在其他部门，提出改善方案时，特别是与设计有关的问题时，推动开发改进比较难，但是如果把可靠性和失效分析的主要责任放在开发部时，自然会更积极解决问题。其三，如果把可靠性工程师放在其他部门，那么失效控制是后端控制的方式，而把可靠性工程师放在开发部，是源头控制的方式，当然成本更低。最后，说句不好听的话，把可靠性工程师放在品质部，处理问题有可能形式主义比较严重（从我个人的经验来看，品质部一般是形式主义比较严重的部门）。过于重视“政绩”和影响力，而更少从合适的角度考虑问题。而放在开发部，可靠性更像是一种内需，更看重实事求是。</p>
<p>八、失效分析的一些其他想法</p>
<p>专业的可靠性实验设备、失效分析仪器以及元器件分解的工具材料种类很多，并且大多仪器非常昂贵。所以，不可能什么都配备。一个可靠性工程师必须考虑企业实际情况，选择成本允许而且是必须的工具。至于有的分析实验，可以到供应商处做，充分利用能够利用的资源。另外一些更复杂而且必要的分析，甚至可以和一些失效分析研究所合作。</td>
</tr>
</tbody>
</table>
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		<title>失效分析这点事－其实很重要-企业可以很容易的进行质量控制</title>
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		<pubDate>Fri, 01 Jul 2011 09:53:05 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[ic测试技术]]></category>
		<category><![CDATA[测试案例]]></category>
		<category><![CDATA[失效分析，ic测试]]></category>

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		<description><![CDATA[失效分析现在已经成为了热门技术。业界也有不少专家在讲授失效分析知识。总的来说，失效分析在一般人的眼中，是很高深莫测的一门学问。

这以失效分析方面的专家动辄就拿昂贵的仪器，拿高深IC的解剖来说事不无关系。事实上，有的仪器他们可能也没用过，只有美国的大机构才用得起。

学院派的专家就不用说了，他们由于没有工作经验，所以只能讲解一些理论，他们的主要东西基本上是靠照搬美国的理论来的。所以，大理论一听，真的很高深。而一些研究所的专家，可能用过一些仪器（但是他们用得也不全），也做过一些解剖，但是，很少有企业用到那些仪器。]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>失效分析现在已经成为了热门技术。业界也有不少专家在讲授失效分析知识。总的来说，失效分析在一般人的眼中，是很高深莫测的一门学问。</p>
<p>这以失效分析方面的专家动辄就拿昂贵的仪器，拿高深IC的解剖来说事不无关系。事实上，有的仪器他们可能也没用过，只有美国的大机构才用得起。</p>
<p>学院派的专家就不用说了，他们由于没有工作经验，所以只能讲解一些理论，他们的主要东西基本上是靠照搬美国的理论来的。所以，大理论一听，真的很高深。而一些研究所的专家，可能用过一些仪器（但是他们用得也不全），也做过一些解剖，但是，很少有企业用到那些仪器。</p>
<p>即使是一些有工作经验的专家出来传授失效分析知识，也不能免俗，总是以那些高深的分析和解剖为主要讲解内容。（我不清楚他们是有所保留，还是觉得不讲高深一点镇不住人）</p>
<p>在我看来，一味地强调高深的失效分析，不顾中国企业现状，就像没有教会人走路就先教人跑步一样。</p>
<p>中国电子行业现在的状况可以说是可靠性非常差。即使一些大公司有可靠性相关部门，很多大公司对可靠性测试花了大投入，但是对失效分析不够重视，失效分析人员沦为修理人员。而可靠性测试的理论基础也是基于发达国家的理论过来的，所以有时并不是那么符合我国，因为我国的技术水平以发达国家不在同一个层面，所以出的问题也不是同层面的问题。中国人有个很大的缺点，就是喜欢形式主义，所以不管是大公司还是小公司，在失效分析和可靠性方面，空有形式，少有实质。</p>
<p>可靠性领域，有两个榜样。美国和日本。美国以严格全面的测试保证可靠性。日本却是更重视失效分析。当然，美国失效分析也是老大，但是日本相对来说更重视实用的失效分析（当然日本也重视可靠性实验）。美国是技术巨无霸，可靠性测试方面日本也没办法达到那样的水平，所以日本实事求是地选择失效分析为重点，不断完善，从而使品质不断提升。</p>
<p>日本的电子产品曾经是劣质品的代名词，但是后来很多地方，特别是家电，赶上了甚至超越了美国。日本的电子产品成为了价廉物美的代名词。日本没有美国的大手笔投入来搞那么全面的可靠性测试，所以其可靠性成本也比美国低。但是，他们通过失效分析，不断提升了品质，所以物美。</p>
<p>举一个实际的例子。</p>
<p>塑封IC刚开始时，可靠性是很差的。当然，IC美国是老大，日本的IC更差。所以日本的电子产品大多要靠进口美国的IC。一开始，美国对塑封IC的可靠性差，认为是理所当然的。他们称要用高可靠性的IC，就要用陶瓷封装的IC，因为那是通过严格的测试的。但是，日本的失效分析专家做了实实在在的测试、失效分析、DPA（破坏性物理实验，以良品解剖为核心），把失效的问题找出来了，通过不断的改善，使日本的塑封IC可靠性也大大提高。美国后来才反过来学习日本的经验，从而提升了他们的塑封IC可靠性，最后重新超越日本。（有几个地方都是这样，美国一开始很厉害，但是日本采用了更合适的方法超过了美国，美国后来重新检讨改进，重新超越日本。比如美国在目标管理和绩效考核进行得如火如荼的时候，日本推行全面质量管理，结果最后日本胜出，美国领悟过来后，抛掉目标管理和绩效考核，才重新赶超日本的）。</p>
<p>我国的电子业水平，和美国和日本比起来有如天壤之别。我国的电子业基础十分落后，可靠性水平也很差，除了廉价和技术含量低的产品能够抢占不少市场份额外，高端产品（比如IC和复杂元件），几乎是国外产品的天下。我们现在的水平，比日本起步时候的水平（相对水平）还差得多。那么，可靠性方面，我们应该学日本模式还是学美国模式更合适呢？</p>
<p>就是问一个外行也知道，我们基础差，学日本比学美国更合适。也就是说，脚踏实地地做失效分析，更加重视失效分析，对提升我国的电子产业可靠性更合适。而且要注意，我们跟日本比起来，差距巨大，也不能照搬日本的全部模式。可惜中国很多企业走的是美国模式的道路。不过那是好高骛远，不切实际。就像自己只有拖拉机，不去学开拖拉机的技术，反而想学开飞机的技术，结果飞机没开着，拖拉机也没开好。比如说，现在失效分析的专家动辄就拿解剖IC说事（其实有时他们也没解剖过），可是在中国很多企业根本就没条件。</p>
<p>中国政府对基础产业的扶持力度远远不够，虽然总是有吹牛的类似政策出台，但总是雷声大雨点小。他们宁愿花大量的金钱去搞?沫经济，去拉动鸡的屁的高速发展，也不愿意花稍微多一点的钱来支持基础产业的发展（新闻上都是忽悠你的）。大型企业在类似的政策“熏陶”下，浮躁十足。大家看了就知道了，那些稍微大一点的电子公司，包括牛皮吹得响哄哄的HE(化名，以下同)，最后几乎都搞房地产去了，或者炒股去了。或者好大喜功，根本不够强的时候就想做大做强，比如LX。大有什么用？想做大，首先要做强再说。中国有几个企业真正的强的？HW（还好，老板讨厌?沫经济，不过HW同样有恶性竞争、依靠拉关系等的问题）也没资格出来吹牛。不过这些公司基本上都在吹牛自己有多强。可是看看他们生产出来产品，那个技术水平和可靠性，真的没资格吹牛自己有多强，只能说相对的强。中国的元器件企业，与先进国家的比起来更是差得太远了。</p>
<p>中国电子产品除了技术落后，基础薄弱，其实最大的问题还是可靠性的问题。可靠性上不去，再大都做不强。中国现在还缺乏在各方面都非常正面的大企业（有的广告吹得好产品做得差，有的浮躁，有的恶性竞争，有的在供应商处是国际大流氓）。我认为中国电子产业未来的希望在中小企业——民营企业为主体的群体，也是创造真正价值的主力（国有企业的产值和创造的价值以水分为主，不足以信）。政府必须更加公平的对待民营企业。但是，作为民营企业本身，对政府不要抱有幻想，而是靠做强，自己强大了，政府自然而然会重视你。</p>
<p>可靠性是中国很多中小企业发展的主要瓶颈。同样是普通的整机产品，技术都很公开了，中国的产品与欧美日本等发达国家的产品输就输在可靠性上。这里先说明一下，我所说的中小企业是指员工人数一万人以下，年销售额100亿以下的企业，也就是说，中国的绝大多数企业是属于我所说的中小企业范畴。<strong>根据我多年的工作经验，加上和众多同行的交流，和众多供应商的交流，我意识到，中小企业的可靠性有很大的提升空间，而且提高可靠性并不是那么高深莫测。因为大多数中小企业可靠性方面已经误入歧途了。踏踏实实地做失效分析，而且不用做那么高深的失效分析，就能大大提升产品可靠性。</strong></p>
<p>以下是我针对不同种类的元件分别说明。</p>
<p>一、高端元件，比如说IC及一些大功率分立器件、技术含量高的无源器件。这些器件，国内的厂家生产不出来，或生产出来的可靠性很差。所以，大多靠进口。</p>
<p>如果有整机厂家（中小企业）这些元件失效了，有的公司送给一些分析机构做很专业的失效分析，同时，对来料进行复杂的检验，甚至筛选。这种公司，一般人会怎么想？是不是对他们很佩服？我告诉你，这种企业，一般应用这些高端元件时可靠性是很差的。为什么？</p>
<p>高端元件一般是欧美公司生产的，他们的技术水平很高，可靠性测试非常严格，所以，生产出来的元件，只要应用得当，是很可靠的。整机厂对这种元件来料测试或筛选，跟厂家的测试比起来，有如天壤之别，所以是不可能测出问题来的。但是，为什么有整机厂要做来料测试呢？而且还请专业机构做失效分析呢。那就说明，他们用这些元件时失效率过高。</p>
<p>失效率高是什么原因？请那些失效分析机构做的分析报告很专业，很能震撼人。可是问题解决了没有？没有。分析机构只会告诉你解剖看到的现象。然后，对于是什么原因造成的，他们最多会给一些推测，当然，推测的原因中包含了很多的可能。可是，他们没办法告诉你真正的原因。</p>
<p>真正的原因是什么？根据我的行业经验，这些高端元件，失效率高，首当其冲的原因就是采购到了冒牌货！冒牌货的问题解决了，高端元件的可靠性问题就解决了一大半。高端元件由于价值高，所以，冒牌货很多。在市场上，冒牌货比正品还要多得多。所以，很多公司一直在用冒牌货却不知道。当然，最恐怖的是，如果设计工程师的BOM上（或物料库中）都不规定品牌，这种公司的元件质量一定会烂得很。</p>
<p>所以，高端元件，中小企业去请人做失效分析没意义，来料测试也解决不了问题，关键是要控制采购渠道。一般只有通过代理商，或声誉好的贸易商进货，才能保证正货。</p>
<p>很多公司的采购会说，我们的量小，代理商不会给我们供货。当然，个别很大的代理商确实会挑剔客户，但是，现在代理商也不少了，这家不行那家行嘛。很多情况下，就是没有真心地跟人家合作而已。其实，只要每月的采购额10万以上，就有很多代理商愿意做。而且现在是金融危机，很多代理商都放低了姿态。不过要提醒的是，不要吊死在大代理商身上，因为他们比较势利，一旦供货紧张的时候，他们对中小客户是很差的。可以选定几家代理商集中采购高端元件，这样对大家都有好处。</p>
<p>有的中小企业另外一个极端是，要求所有的元件都从代理商处采购。我可以告诉你，有这个要求的中小企业，一定在用很多冒牌货！很奇怪是吧？很简单，因为不要说中小企业，就是大企业，完全从代理商处供货都是不现实的。那么，为什么有的中小企业“做到”这点了呢？因为这个“做到”不是真的做到，而是通过巧立名目，通过上有政策下有对策“做到”的。比如说，很多贸易商自称是代理商，于是整机厂家认可了他们，更有甚者，一些代理商伪造代理证，忽悠整机厂的人（采购有时真被忽悠了，有时是假装被忽悠了）。所以，形式主义要不得，要实事求是。要求供货由代理商为主，贸易商为辅的策略。而且，对于这些贸易商一定要是声誉好的，同时给他们灌输不能供冒牌货的观点，有严格的惩罚措施。</p>
<p>解决了货源问题，就解决了高端元件一半以上的问题。之后就是应用可靠性的问题。比如说防静电做得好不好，焊接工艺好不好，这些都不需要做失效分析就应该管控的。上面这些问题解决了，就可以更深入地把设计中的不合理问题暴露出来了。以前的话，这些元件一出问题，可以怪到来料不良。现在，都是正规货了，我说过，这些高端元件的可靠性是非常高的，如果是正货，很多问题其实是设计不当引起的。所以，就可以敦促设计工程师检讨自己的设计。如果确实还是认为是元件问题，那好，交给代理商返回给原厂做失效分析。因为代理商是有这个义务的。不过即使是原厂分析，一般也会说是应用问题（很多时候这是事实），而具体怎么造成的还是得自己分析。比如说，分析结果告诉你是过电应力，为什么会过电应力呢？可能性就千奇百怪了，自己要分析才行。原厂的元件会不会出问题呢？当然有可能。没有哪个公司的东西绝对不出问题的。但是要注意，原厂出问题的概率一般会很低，如果一个整机厂的高端元件好多次问题（比如所有的高端元件的问题加起来，一年达10次批次性的问题这么多），那么我可以告诉你，基本上是因为应用有问题，而不是厂家出问题。否则，这些厂家早就倒闭了。因为大厂家的器件是有很多大客户用的，他们的器件真的出了大批量事故，他们会损失巨大。每年出一两次的话他们有可能就赔死。</p>
<p>所以，对于中小企业来说，高端元件失效的问题一般是很浅层次的问题，还轮不到对这些高端元件做深入的分析这种水平。除非你们的这些高端元件基本不出问题，偶尔才出问题时，说明你们的元件应用应该是比较可靠了，这时想进一步提升可靠性，就要进行失效分析。什么才叫可靠性好呢？有的人认为他们的可靠性已经“很好”了，事实上，高端元件，知名品牌的失效率是几个ppm或几十ppm的数量级。而有的中小企业的有的高端元件的失效率达几百ppm、甚至几千ppm（相当于千分之几），这种水平的失效率，无疑是冒牌货或应用问题，还轮不上去怀疑正牌厂家的元件的可靠性的时候。</p>
<p>失效分析专家讲失效分析，动辄就是IC的解剖。事实上，中小企业来说，这些东西还用不上。只要会看人家的失效分析报告就可以了。高端元件控制货源、工艺、设计应用才是最有效率的提高可靠性的方法。</p>
<p>二、次高端元件。比如普通二三极管等分立元件，还有一些较为复杂的被动元件。这些次高端元件的特点是，技术有一定的难度，门槛较高，但是价格又一般般。这种元件，虽然欧美企业依然是做得最好，但是由于价格不是很高，所以欧美企业在逐渐越来越不重视这些元件，甚至放弃生产，所以，反而有的地方被日本赶超了。同时，由于技术上不是很难，所以台湾、香港和内地也有不少企业在生产。</p>
<p>这类元件价格不高、用量也不是很大，所以总体来说，采购额不是很高。这时，采购名牌厂的正牌货就有点难。这种元件一个办法是集中采购，放在和高端元件同样的代理商那里。另外，如果没办法集中采购，而单独找代理商人家又不愿意做时。愿意做的小贸易商又有冒牌货的风险。这时侯怎么办？我认为，以其冒着用冒牌货的风险，不如用牌子没那么大但是有正规货源的产品。比如台湾、香港和内地也有一些名牌企业（二线企业）生产这些东西质量也还可靠，这些元件的代理商一般都要求没那么高，采购额没那么大都愿意做。二线企业的元件失效分析还是要由厂家分析。这些厂家生产出来的东西可靠性还有待提高，并且有些性能也有待提高，可以通过要求他们做失效分析，不断提升可靠性。当然，有时，这些企业，特别是国内的企业，做失效分析时比较形式主义，这时要穷根究底，逼迫他们发现真正的问题，从而真实地改善质量。当然，通过厂家的失效分析报告，如果是应用问题，也要找自己公司在应用方面的实际问题。</p>
<p>三、通用标准元件。比如贴片电阻贴片电容。这些元件从性能上来说属于最简单的元件，但是生产需要一定的门槛，因为必须大规模生产才能有利润。</p>
<p>这种元件用量大，市场上有大量竞争对手，可靠性水平一般都比较高。包括国内的一些名牌厂家的质量也不错了。所以，这种元件除了选择好的品牌，杜绝冒牌货（也有冒牌货）外，就是要小心工艺和设计问题了，以上的问题做好了，可靠性一般就能上去。</p>
<p>四、门槛低的元件，是指生产这种元件投入不大，也没有技术门槛，生产厂家特别多。要注意，这种元件门槛低不等于元件本身真的很简单。比如说，晶振本身是个很复杂的元件，可是晶振生产的门槛很低，因为小厂家可以买晶元等元件回来，剩下的只是做装配封装而已。另外包括一些定制件门槛也低，比如变压器。</p>
<p>门槛低的元件，反而是最容易出问题的元件。就是因为门槛低，所以市场上鱼龙混杂。说实在话，这种“简单”的元件反而是中小企业中失效率最高的元件。解决了这些元件的失效问题，企业的整机失效率将会大大提高。</p>
<p>很多搞失效分析的专家基本上认为这种元件不值一提，所以最多是一笔带过。可是，对中小企业来说，最实用的知识，最快提升公司产品可靠性的，就是解决好这些“简单”元件的问题。而且对这些元件进行失效分析和解剖，一般是可行的。不像IC，事实上国内没几家能够解剖。</p>
<p>中小企业失效分析人员的主要精力花在解决这些“简单”元件，深入分析和调查，就能取得很大的成效。</p>
<p>比如下面这些元件，门槛很低（很小的厂都能生产），但是，确实是很多公司的老大难质量问题：晶体(无源)晶振(有源)、发光二极管(LED)、数码管、液晶显示器(LCD)、变压器、贴片功率电感、电源模块、电声器件、接插件、开关、线绕电阻、电位器、电机、风扇、印制电路板、线材加工、外协加工件(比如单板)，等等。</p>
<p>这种元件，能用好品牌的就要用好品牌的。当然，有时受采购量、货期、成本等影响，未必买得到好品牌的。这时，退而求其次，也要选择比较可靠，有改善实力的厂家。如果选的是很差的厂家，即使你技术协议做得再漂亮，罚款措施再严，也无法得到可靠性好的元件（所谓?不起的阿斗）。做可靠性测试、做筛选也提高不了可靠性。因为在可靠性很差的企业，产品失效不符合浴盆曲线，可能是直线，更恐怖的是前低后高的曲线，比如很多潜在的不良后期才暴露出来。</p>
<p>一旦选择了合适的供应商，元件出了问题，就要脚踏实地地做失效分析了。很多公司的毛病是，元件出了问题，生产、技术、质量、采购、供应商之间就开始扯皮，扯来扯去，甚至换了不少供应商，就是没有把问题解决掉。特别是搞绩效考核的公司，所有的人都拼命推脱责任，效率及其低下。</p>
<p>元件出了问题，分析原因。找出改善办法，比追究谁的责任重要多了。做失效分析也只能看出失效现象和失效机理，但是真正的失效根源，是很复杂的，很多时候是各种原因交织在一起（越差的公司原因就越多）。解决的办法有时也要多方面入手。</p>
<p>一般公司失效分析最大的毛病就是，没有实地调查、没有多收集资料、没有验证，想形式主义地就得出了原因，得出了改善措施。到最后，问题还是没真正解决。特别是调查跟踪非常重要，能发现坐在会议室想破脑壳也想不出来的问题。</p>
<p>现在业界对这种“简单”元件的失效分析，大家交流较少，我倒是希望看见更多的同行，一起来交流这些方面的经验，这是失效分析最有用最有效率的地方——成本很低，但是收效巨大。中国整个电子行业，就是要靠不断的脚踏实地地做失效分析，提升可靠性，才有增强我国电子产品的实力。做强了，就一定会有很多做大的机会。光大而不强，没有任何意义。</p>
<p>失效分析能够暴露公司的设计、工艺、人为等方方面面的问题。同时，即使是元件本身的问题，也要和供应商一起分析和解决问题。不要一味地让供应商出个分析报告改善就完事了。供应商内部也有很多形式主义，只有干实事的心态去做事，才能发现真正问题。中国的普通供应商质量意识还不够高，分析问题也还不够专业或踏实。那么，可以通过失效分析，不断地推动中国供应商的进步。</p>
<p>失效分析没有那么高深莫测，把普通的元件失效分析做好了，产品的可靠性就能大幅度提升。曾经有个例子，有个同事，说我们公司没做失效分析，我当时就好笑，反驳道，我把元件不良的原因找出来了，改善了，那不就是失效分析么？或许在他的心目中，只有解剖IC之类的才叫失效分析。这也不怪他，因为那些专家一讲失效分析就是IC解剖。</p>
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		<title>电子元器件及电子产品可靠性研讨会邀请函</title>
		<link>http://www.17dir.cn/archives/301</link>
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		<pubDate>Thu, 30 Jun 2011 06:12:35 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[ic测试技术]]></category>

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		<description><![CDATA[电子元器件是武器装备系统的基础和核心，整机在各阶段的故障大多与电子元器件有关系，而元器件的失效往往和器件自身质量状况、装备设计、电子组装、试验应力等等相关。如何有效的区分故障原因，查明失效机理，需要借助专门的分析手段和综合的分析能力（即失效分析技术），本研讨会主要从电子元器件失效分析技术和案例出发，针对主要的失效模式和失效机理从设计和使用等角度给出了解决方法。   ]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<div id="attachment_309" class="wp-caption alignleft" style="width: 383px"><a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/110.jpg"><img class="size-full wp-image-309" title="中国赛宝实验室" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/110.jpg" alt="中国赛宝实验室" width="373" height="67" /></a><p class="wp-caption-text">中国赛宝实验室-可行性研究分析中心</p></div>
<p>会议时间：2010年7月22日    (<strong>免费</strong>)   </p>
<p>会议地点：成都紫微酒店·银座（锦江区总府路8号）</p>
<p><strong>主</strong>办单位：工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性研究分析中心</p>
<p>        重庆银河试验仪器有限公司</p>
<p>会议规模：约200人</p>
<p><strong><span style="text-decoration: underline;">一、会议背景</span></strong><strong> </strong></p>
<p>电子元器件是武器装备系统的基础和核心，整机在各阶段的故障大多与电子元器件有关系，而元器件的失效往往和器件自身质量状况、装备设计、电子组装、试验应力等等相关。如何有效的区分故障原因，查明失效机理，需要借助专门的分析手段和综合的分析能力（即失效分析技术），本研讨会主要从电子元器件失效分析技术和案例出发，针对主要的失效模式和失效机理从设计和使用等角度给出了解决方法。   </p>
<p> 此外，元器件的质量状况很大程度上决定了武器装备的可靠性，如何避免有隐患的电子元器件上到整机，是电子装备生产单位长期面临的一个问题。特别是随着电子装备的不断更新换代，元器件的型号随设计不断更替；新工艺的电子元器件层出不穷；混杂的电子元器件供应市场现状导致的假冒翻新电子元器件泛滥，使得整机单位面临了元器件选型定型分析、新工艺器件可靠性风险评估、假冒伪劣元器件的防范等新的可靠性问题，均需通过电子元器件质量控制技术去应对。</p>
<p> 另外，由于业界一直存在重设计轻工艺的根深蒂固的观念，导致组装生产出来的产品质量问题不断，以致于成本的显著增加和品牌形象的损失。随着电子产品装备向小型化、轻量化等方向发展以及近几年受环保指令等影响而导致电子制造向无铅工艺或混装工艺方向转化，电子制造工艺可靠性问题日益突出，集中表现在由于辅料使用不当导致细节距的线路或器件短路、高密度焊点疲劳失效以及PCB内部迁移失效等多个方面。针对上述可靠性问题必须通过设计优化、材料控制、工艺优化及控制等方法进行系统的控制。本研讨会同时还将针对影响电子制造工艺可靠性几个关键因素出发，介绍目前电子制造可靠性保证中的相关热点问题及控制方法，从而为广大电子设备生产厂家、制造企业提供参考。</p>
<p>会议将特别组织本行业经验丰富的知名专家就上述专题进行交流研讨，着眼于工程实际问题的解决。欢迎广大相关技术人员参加，并带来各自工程中的实际问题进行现场交流。</p>
<p><strong><span style="text-decoration: underline;">二、参会对象</span></strong><strong> </strong></p>
<p>     质量控制、产品设计、物资采购、电装工艺以及检测分析的技术人员和管理人员。</p>
<p><strong><span style="text-decoration: underline;">三、参会形式</span></strong><strong> </strong></p>
<p>     <strong>免费</strong>，报名人员签到领取资料后即可参加。</p>
<p><strong><span style="text-decoration: underline;">四、交流大纲</span></strong><strong> </strong></p>
<p><strong>一、电子元器件失效分析技术及案例</strong><strong></strong></p>
<p>1）  失效分析的概念和内涵</p>
<p>2）  失效分析技术的作用</p>
<p>3）  失效分析技术能力</p>
<p>4）  分析案例交流</p>
<p><strong>二、电子元器件物料控制技术</strong><strong></strong></p>
<p>1）  物料控制简介</p>
<p>2）  电子元器件物料控制技术思路</p>
<p>3）  物料控制的技术实现</p>
<p>4）  假冒翻新电子元器件现状</p>
<p>5）  翻新鉴别技术</p>
<p>6）  物料控制案例</p>
<p><strong>三、电子制造可靠性保证的几个热点问题</strong><strong></strong></p>
<p>1） 电子制造可靠性特点概述</p>
<p>2） 电子辅料选择控制技术</p>
<p>    电子辅料的定义</p>
<p>    电子辅料对电子制造的可靠性影响分析</p>
<p>    电子辅料选择综合评价方法及案例</p>
<p>3） PCB材料可靠性保证</p>
<p>    PCB主要问题概述</p>
<p>    PCB综合评价方法及案例分析（CAF，ECM等）</p>
<p>4） 电子工艺分析及可靠性保证方法</p>
<p>    焊接工艺原理分析</p>
<p>    工艺评价方法及案例分析</p>
<p>    焊点疲劳失效及评价方法</p>
<p><strong><span style="text-decoration: underline;">五、会议议程</span></strong><strong></strong></p>
<table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0">
<tbody>
<tr>
<td width="107"><strong>时间安排</strong></td>
<td width="254"><strong>演讲主题</strong></td>
<td width="260"><strong>演讲人/负责人</strong></td>
</tr>
<tr>
<td width="107">8：30－9：30</td>
<td width="254">来宾、代表报到</td>
<td width="260">主办两方会务组人员</td>
</tr>
<tr>
<td width="107">9：30-10：30</td>
<td width="254">电子制造可靠性特点、电子辅料选择控制技术、PCB材料可靠性保证</td>
<td width="260">邱宝军工信部五所分析中心高工/市场部部长</td>
</tr>
<tr>
<td width="107">10：30-10：40</td>
<td colspan="2" width="514">茶歇</td>
</tr>
<tr>
<td width="107">10：40-11：20</td>
<td width="254">电子工艺分析及可靠性保证方法</td>
<td width="260">邱宝军工信部五所分析中心高工/市场部部长</td>
</tr>
<tr>
<td width="107">11：20-12：00</td>
<td width="254">重庆银河介绍</td>
<td width="260">待定</td>
</tr>
<tr>
<td width="107">12：00-13：00</td>
<td colspan="2" width="514">统一午餐及休息</td>
</tr>
<tr>
<td width="107">13：00-14：20</td>
<td width="254">电子元器件失效分析技术及案例</td>
<td width="260">李少平工信部五所分析中心副主任/高工</td>
</tr>
<tr>
<td width="107">14：20-14：30</td>
<td colspan="2" width="514">茶歇</td>
</tr>
<tr>
<td width="107">14：30-15：30</td>
<td width="254">电子元器件物料质量控制技术</td>
<td width="260">解江工信部五所分析中心工程师/工程部部长</td>
</tr>
<tr>
<td width="107">15：30-16:00</td>
<td colspan="2" width="514">互动交流、讨论</td>
</tr>
</tbody>
</table>
<p><strong><span style="text-decoration: underline;">六、参会联络：</span></strong><strong><span style="text-decoration: underline;"> </span></strong></p>
<p>联系人：李华、刘桂妃</p>
<p>电话（手机）：020-87236621(15989022582)、87236631(13570469855)   </p>
<p>传真：020-87237185</p>
<p>Email:<a href="mailto:lih@ceprei.com">lih@ceprei.com</a>    Web: www.rac.ceprei.com<strong></strong></p>
<p><strong><span style="text-decoration: underline;">七、主讲嘉宾简介：</span></strong><strong></strong></p>
<p><strong>李少平 </strong>工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室）高级工程师/可靠性研究分析中心副主任，我国电子产品失效分析领域权威专家。1984年从电子科技大学固体器件专业毕业后一直从事电子产品可靠性技术研究工作，曾经主持、参加众多军用电子元器件可靠性研究课题，多次获得各级科研成果奖项。近10余年来主要从事电子产品失效分析，指导完成大量失效分析任务，具有丰富的分析经验。曾指导培训过上百家企业，如中广核、华为、中兴、海尔、美的、厦华、飞通等，学员累计数千人。<strong> </strong></p>
<p><strong>解  江</strong> 工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室）工程师，西安电子科技大学集成电路设计专业硕士。主要从事电子元器件、电子产品可靠性技术研究以及半导体分立器件、集成电路的失效分析工作。曾负责主导过多项电子元器件及电子产品的可靠性咨询、评价、分析以及物料评价项目。曾在多家科研院所和电子企业进行过可靠性相关技术培训，如中广核、中兴、格力、海尔、台达、IBM、TOSHIBA等。</p>
<p><strong>邱宝军 </strong>工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室）高级工程师，微电子封装和表面组装工学硕士。自1999年起，专业从事电子组装工艺及电子组件可靠性技术研究，PCBA检测及失效分析技术服务，无铅项目导入咨询等工作。承担了包括国防预先研究课题《SMT焊点的快速可靠性评价技术研究》《BGA焊点失效分析新技术》等在内的多项SMT焊点可靠性评价和PCBA焊点失效分析的研究工作；参与了包括GB IPC IEC等国内外标准的修订，在标准化上具有丰富的经验。曾在伟易达、美的、斯菲尔电器等多家企业开展过无铅工艺导入咨询项目，主讲对外公开课数十次，取得了良好的效果，学员累计数千人。</p>
<p><strong>附件：报名回执表</strong><strong></strong></p>
<div>
<table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0">
<tbody>
<tr>
<td colspan="5" width="636"><strong>,  </strong><strong>报名回执表</strong></td>
</tr>
<tr>
<td width="105">公司名称</td>
<td colspan="4" width="531"> </td>
</tr>
<tr>
<td width="105">参会代表姓名</td>
<td width="84">职务</td>
<td width="108">电话</td>
<td width="120">手机</td>
<td width="219">电子邮箱</td>
</tr>
<tr>
<td width="105"> </td>
<td width="84"> </td>
<td width="108"> </td>
<td width="120"> </td>
<td width="219"> </td>
</tr>
<tr>
<td width="105"> </td>
<td width="84"> </td>
<td width="108"> </td>
<td width="120"> </td>
<td width="219"> </td>
</tr>
<tr>
<td colspan="5" width="636">备注：请填好此表后传真至：020-87237185  或发邮件至：<a href="mailto:lih@ceprei.com">lih@ceprei.com</a>。</td>
</tr>
</tbody>
</table>
</div>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.17dir.cn/archives/301/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>英国ABI-AT256测试案例-ST16C554故障器件测试报告</title>
		<link>http://www.17dir.cn/archives/259</link>
		<comments>http://www.17dir.cn/archives/259#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 30 Jun 2011 04:06:37 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[测试案例]]></category>
		<category><![CDATA[IC测试案例]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.ic114.net.cn/?p=259</guid>
		<description><![CDATA[测试时间：2011-06-30   测试结果：失败。

测试元件型号：16C554
测试设备：英国ABI-AT256集成电路筛选测试仪   全品种集成电路筛选测试仪]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>测试时间：2011-06-30   测试结果：<span style="color: #ff0000;">失败</span><br />
测试元件型号：16C554<br />
测试设备：英国ABI-AT256</p>
<div id="attachment_277" class="wp-caption aligncenter" style="width: 310px"><a rel="attachment wp-att-277" href="http://www.ic114.net.cn/archives/259/fail"><img class="size-full wp-image-277" title="16c544故障器件测试结果图" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/fail.jpg" alt="16c544故障器件测试结果图" width="300" height="300" /></a><p class="wp-caption-text">16c544故障器件测试结果图</p></div>
<div id="attachment_260" class="wp-caption aligncenter" style="width: 373px"><a rel="attachment wp-att-260" href="http://www.ic114.net.cn/archives/259/vs64qnsfymz0lifos_1-2"><img class="size-full wp-image-260" title="st16c544管脚图" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/VS64QNSFYMZ0LIFOS_11.jpg" alt="st16c544管脚图" width="363" height="422" /></a><p class="wp-caption-text">st16c544管脚图</p></div>
<h1><span style="color: #333399;">AT256 - Chip Report</span></h1>
<h2><span style="color: #333399;">Test Summary</span></h2>
<table border="0">
<tbody>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Device:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">16C554</span></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Package:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">68 pin PLCC</span></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Scan Profile:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">Copy of Normal Digital</span></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Overall Result:</span></th>
<td><strong><span style="color: #ff0000;">FAIL</span></strong></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Operator:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">Administrator</span></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Report Date:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">30 June 2011</span></td>
</tr>
</tbody>
</table>
<div class="mceTemp mceIEcenter"><a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/tu4.gif"></a></div>
<p style="text-align: center;"><a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/tu3.gif"><img class="aligncenter size-full wp-image-288" title="英国ABI-AT256测试案例-ST16C554良好器件测试报告" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/tu3.gif" alt="" width="489" height="1738" /></a></p>
<p><a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/tu4.gif"><img title="AT256测试案例-ST16C554故障器件测试报告" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/tu4.gif" alt="" width="444" height="8407" /></a></p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.17dir.cn/archives/259/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>英国ABI-AT256测试案例-ST16C554良好器件测试报告</title>
		<link>http://www.17dir.cn/archives/244</link>
		<comments>http://www.17dir.cn/archives/244#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 30 Jun 2011 03:29:48 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[测试案例]]></category>
		<category><![CDATA[IC测试案例]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.ic114.net.cn/?p=244</guid>
		<description><![CDATA[测试时间：2011-06-30  测试结果：通过。
测试元件型号：16C554
测试设备：英国ABI-AT256集成电路筛选测试仪，英国ABI全品种集成电路筛选测试仪
]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>测试时间：2011-06-30   测试结果：通过<br />
测试元件型号：16C554<br />
测试设备：英国ABI-AT256</p>
<div id="attachment_274" class="wp-caption aligncenter" style="width: 310px"><a rel="attachment wp-att-274" href="http://www.ic114.net.cn/archives/244/ok"><img class="size-full wp-image-274" title="16c544测试报告结果图片" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/ok.jpg" alt="16c544测试报告结果图片" width="300" height="300" /></a><p class="wp-caption-text">16c544测试报告结果图片</p></div>
<div id="attachment_250" class="wp-caption aligncenter" style="width: 373px"><a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/VS64QNSFYMZ0LIFOS_1.jpg"><img class="size-full wp-image-250" title="st16c544" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/VS64QNSFYMZ0LIFOS_1.jpg" alt="st16c544" width="363" height="422" /></a><p class="wp-caption-text">st16c544管脚图</p></div>
<p> </p>
<h1><span style="color: #333399;">AT256- Chip Report</span></h1>
<h2><span style="color: #333399;">Test Summary</span></h2>
<table border="0">
<tbody>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Device:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">16C554</span></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Package:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">68 pin PLCC</span></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Scan Profile:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">Copy of Normal Digital</span></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Overall Result:</span></th>
<td><strong><span style="color: #ff0000;">SUCCESS</span></strong></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Operator:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">Administrator</span></td>
</tr>
<tr>
<th><span style="color: #333399;">Report Date:</span></th>
<td><span style="color: #333399;">30 June 2011</span></td>
</tr>
</tbody>
</table>
<div id="attachment_248" class="wp-caption alignnone" style="width: 538px"><a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/tu1.gif"><span style="color: #333399;"><img class="size-full wp-image-248 " title="AT256测试安例报告" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/tu1.gif" alt="AT256测试安例报告" width="528" height="1651" /></span></a><p class="wp-caption-text">AT256测试安例报告：各个管脚测试通过的百分比图片</p></div>
<div id="attachment_252" class="wp-caption alignnone" style="width: 442px"><a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/tu2.gif"><img class="size-full wp-image-252 " title="AT256测试实例" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/tu2.gif" alt="AT256测试实例-ST16C544" width="432" height="8383" /></a><p class="wp-caption-text">AT256测试实例-ST16C544的测试相似度图片</p></div>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.17dir.cn/archives/244/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>英国ABI推出适合中小企业应用的价格低廉的全品种集成电路筛选测试仪</title>
		<link>http://www.17dir.cn/archives/239</link>
		<comments>http://www.17dir.cn/archives/239#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 30 Jun 2011 01:41:24 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[ic测试技术]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.ic114.net.cn/?p=239</guid>
		<description><![CDATA[日前，来自英国ABI公司的AT系列全品种集成电路筛选测试仪正式进入中国市场，AT系列产品目前推出2款型号:AT192/AT256;它们分别可以一次测试192管脚和256管脚的器件。全品种IC测试，是这个产品的突出优势，无论被测器件是数字IC、模拟IC、还是数模混合电路，都可以在这个设备上顺利快捷地完成测试筛选。]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>日前，来自英国ABI公司的AT系列全品种集成电路筛选测试仪正式进入中国市场，AT系列产品目前推出2款型号:AT192/AT256;它们分别可以一次测试192管脚和256管脚的器件。全品种IC测试，是这个产品的突出优势，无论被测器件是数字IC、模拟IC、还是数模混合电路，都可以在这个设备上顺利快捷地完成测试筛选。</p>
<p>随着集成电路技术的突飞猛进，集成电路的规模和管脚数越来越大，传统的集成电路测试设备只能检测中小规模集成电路，且受测试设备器件库的限制，测试种类少，测试成本高，集成电路可测率低是传统测试设备的弊端。传统的集成电路测试设备已经不能适应目前集成电路发展的测试要求，目前中小规模的电子生产企业的集成电路测试与筛选是企业质量管理的薄弱环节，企业要提高产品质量，迫切的需要一种全品种、可测率高的集成电路筛选测试仪。英国ABI公司适时地推出了满足企业需求的全品种集成电路筛选测试仪。该产品的推出，解决了目前企业常规的集成电路入库筛选、后期元器件失效分析等测试难题。</p>
<div id="attachment_240" class="wp-caption alignleft" style="width: 310px"><a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/at192.gif"><img class="size-medium wp-image-240" title="at192" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/at192-300x226.gif" alt="全品种集成电路筛选测试仪" width="300" height="226" /></a><p class="wp-caption-text">英国ABI推出适合中小企业应用的价格低廉的全品种集成电路筛选测试仪</p></div>
<p><strong>AT192/256</strong><strong>集成电路筛选测试仪</strong><strong>适用范围：</strong></p>
<p>1）      生产企业的元器件的批量检测及筛选测试</p>
<p>2）      元器件的翻新品及仿制品的筛选测试与验证防范</p>
<p>3）      科研、教学机构对元器件特性的分析与测试</p>
<p>4）      生产环节的电路板的批量测试与检测</p>
<p>5）      维修环节的电路板检测与元器件的测试,失效元件的分析</p>
<p>6）      电子生产企业电子元器件的来料质量控制检测与筛选。</p>
<p>7）      成品质量控制的一致性的检测</p>
<p>8）      电子生产企业的产品与元器件质量控制检测</p>
<p>9）      适合所有元器件与电路板的测试与分析</p>
<p><strong>AT192/256</strong><strong>集成电路筛选测试仪</strong><strong>适合所有元器件的测试：</strong></p>
<p>用于包罗所有类型的元器件,从简单的两脚元器件到更复杂的封装, 如:</p>
<p>- 双列插脚(DIL)</p>
<p>- 小型封装集成组件(SOIC)</p>
<p>- 小型封装(SSOP, TSOP)</p>
<p>- 塑料无引线芯片载体封装(PLCC)</p>
<p>- 四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)</p>
<p>- 球门阵列封装(BGA)等</p>
<p><strong>AT192/256</strong><strong>集成电路筛选测试仪</strong><strong>特点：</strong></p>
<p>1）中文操作软件，软件好安装，操作简单！</p>
<p>2）内建各种类型的封装库，经过简单的培训，不需要电子专业知识，即可投入使用</p>
<p>3）适用于所有封装型式的元器件，试用各种类型的元器件</p>
<p>4）测试结果直接显示:PASS或FAIL软件可设定测试的结果的通过门限</p>
<p>5）完整的分析报告,直接显示失效管脚与可疑管脚的图像，统计失效与可疑管脚</p>
<p>6）测试结果精准可靠,可以任意组合为多达百种测试条件,保证了测试的可靠</p>
<p>7）快速图形化的编辑软件，用户可以方便的快速扩充测试元件库</p>
<p>详细资料：<a href="http://www.ic168.cn/">http://www.ic168.cn</a>    新闻稿联系人：刘峥  13910014455</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.17dir.cn/archives/239/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>香港电台著名主持人梁继璋送给儿子的备忘录</title>
		<link>http://www.17dir.cn/archives/235</link>
		<comments>http://www.17dir.cn/archives/235#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 30 Jun 2011 01:31:53 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[生活杂谈]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.ic114.net.cn/?p=235</guid>
		<description><![CDATA[一）人生福祸无常，谁也不知可以活多久，有些事情还是早一点说好。  
   (二）我是你的父亲，我不跟你说，没有人会跟你说。   
   (三）这备忘录里记载的，都是我经过惨痛失败得回来的体验，可以为你的成长省回不少冤枉路。   以下便是你在人生中要好好记住的事：   ]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>我儿:写这备忘录给你，基于三个原则：   <br />
  (一）人生福祸无常，谁也不知可以活多久，有些事情还是早一点说好。  <br />
   (二）我是你的父亲，我不跟你说，没有人会跟你说。   <br />
   (三）这备忘录里记载的，都是我经过惨痛失败得回来的体验，可以为你的成长省回不少冤枉路。   以下便是你在人生中要好好记住的事：   <br />
 （一）对你不好的人，你不要太介怀，在你一生中没有人有义务要对你好，除了我和你妈妈。至于那些对你好的人，你除了要珍惜、感恩外，也请多防备一点。因为，每个人做每件<a href="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/s_bk_b4f24a1456605762a07e56839b25edcf_tjvLE9.jpg"><img class="alignnone size-full wp-image-237" title="s_bk_b4f24a1456605762a07e56839b25edcf_tjvLE9" src="http://www.17dir.cn/wp-content/uploads/2011/06/s_bk_b4f24a1456605762a07e56839b25edcf_tjvLE9.jpg" alt="" width="150" height="200" /></a>事，总有一个原因，他对你好未必真的是因为喜欢你，请你必须搞清楚，而不必太快将对方看作真朋友。     <br />
 （二）没有人是不可代替，没有东西是必须拥有。看透了这一点，将来你身边的人不再要你，或许失去了世间上最爱的一切时，也应该明白：“这并不是甚么大不了的事”。     <br />
 （三）生命是短暂的，今如果还在浪费着生命，明日就会发觉生命已远离你了。因此愈早珍惜生命，你享受生命的日子也愈多，与其盼望长寿，倒不如早点享受。     <br />
 （四）世界上并没有最爱这回事，爱情只是一种霎时的感觉，而这感觉绝对会随时日、心境而改变。如果你的所谓最爱离开你，请耐心地等候一下，让时日慢慢冲洗，让心灵慢慢沉淀，你的苦就会慢慢淡化。不要过分憧憬爱情的美，不要过分夸大失恋的悲。     <br />
 （五）虽然，很多有成就的人士没有受过很多教育，但并不等如不用功读书，就一定可以成功。你学到的知识，就是你拥有的武器。人可以白手兴家，但不可以手无寸铁，紧记！   <br />
  （六）我不会要求你供养我下半辈子，同样地我也不会供养你的下半辈子，当你长大到可以独立的时候，我的责任已经完结。以后你要坐巴士还是Benz，吃鱼翅还是粉丝，都要自己负责。     <br />
（七）你可以要求自己守信，但不能要求别人守信，你可以要求自己对人好，但不能期待人家对你好。你怎样对人，并不代表人家就会怎样对你，如果看不透这一点，你只会徒添不必要的烦恼。     <br />
（八）我买了十多二十年彩票，还是一穷二白，连三奖也没有中，这证明人要发达，还是要努力工作才可以，世界上并没有免费午餐。     <br />
（九）亲人只有一次的缘份，无论这辈子我和你会相处多久，也请好好珍惜共聚的时光，下辈子，无论爱与不爱，都不会再见！</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.17dir.cn/archives/235/feed</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
	</channel>
</rss>

