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AT256 A4 pro2集成电路测试仪

英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:128路;三维扫频V-I-... 详细内容

英国abi-AT256 A4 pro4集成电路筛选测试仪

英国abi_AT256 A4 pro4多品种集成电路筛选测试仪具备二维集成电路用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;... 详细内容

SWA512大规模集成电路筛选测试仪

二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路,设备可以64通道为步进可扩... 详细内容

SWA1024大规模集成电路测试仪

二维V-I动态阻抗端口测试通道:1024路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:1024路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:1024路,设备可以64通道为步进可... 详细内容

SWA2048大规模集成电路筛选测试仪

二维V-I动态阻抗端口测试通道:2048路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:2048路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:2048路 详细内容

AT256 A4多品种集成电路测试仪

二维集成电路V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板V-I动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(可扩充至2048路);三维扫频V-I-F动态阻抗端... 详细内容

英国abi-ChipMaster手持数字IC测试仪

采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息.可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集... 详细内容

英国abi-AT256多品种集成电路测试仪

测试管脚数:256;元器件测试-适用于多类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试;电路板测试-适用多种电路板的检测(附加测试电缆线和多种封装的测试夹... 详细内容

英国abi-AT192多品种集成电路筛选测试仪

测试管脚:192脚;元器件测试-适用于多类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试;电路板测试-适用多种电路板的检测(附加测试电缆线和多种封装的测试夹... 详细内容

英国abi-LinearMaster手持模拟IC测试仪

内置元件库可以扩充升级;准确可靠的仿真测试;有效的测试更加准确;显示故障管脚的诊断信息在测试过程中,施加模拟信号到待测IC的输入端口,监测每一步... 详细内容



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